X ve Gama-Işını Dedektörlerinde Ölü Zaman Düzeltmesi - Kısım 1- İntegral Düzeltme

Abstract

Yarıiletken dedektörlerinin kullanıldığı spektrometrik kantitatif ve kalitatif analizlerinde, analizlerin doğruluğu için sayma kayıplarının belirlenmesi ve telafi edilmesi önemlidir. Spektrometrelerdeki bu sayma kayıpları yığılma pulsları, uzatılan ve uzatılmayan sistem ölü zamanlarından veya bu üç mekanizmanın ikili ve üçlü bileşimlerinden meydana gelir. Bu çalışmada, yukarıda ifade edilen üç faktörden ileri gelen sayma kayıplarını telafi etmek için yeni bir yöntem önerilmiştir. Bu doğrultuda bir program geliştirildi. Önerilen yöntemi test etmek için bir takım deneysel çalışmalar yapılmıştır. Sonuç olarak, önerilen yöntemin düşük ve orta dereceli sayma oranlarında etkin bir düzeltme sağladığı görülmüştür

Determination of and compensating for count losses for the correctness of analyses in spectrometric analysis of qualitative and quantitative use of semiconductor detectors are of importance. These counting losses in spectrometry are due to the pulse pile-up, paralyzable and non-paralyzable system dead time or dual and triple combination of these three mechanisms. In this work, a new method is suggested for compensate for counting losses resulting from abovementioned three factors. For this purpose, a source code was developed. A number of experimental studies were performed to test the proposed method. As a result, it was seen to provide an effective correction of proposed method at low-and middle-grade counting rates.